致茂局部放電測(cè)試器MODEL 19501-K產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器內(nèi)建交流耐電壓測(cè)試(Hipot Test)與局部放電(Partial D i s c h a rge, PD)偵測(cè)功能于一單機(jī)，提供交流電壓輸出0 . 1 k V~10k V， 漏電流測(cè)量范圍0.01μ A~300μA， 局部放電偵測(cè)范圍1pC~2000pC，針對(duì)高壓半導(dǎo)體組件與高絕緣材

料測(cè)試應(yīng)用所設(shè)計(jì)與開發(fā)。

Chroma 19501-K局部放電測(cè)試器產(chǎn)品設(shè)計(jì)符合IEC60270-1法規(guī)，針對(duì)高電壓試驗(yàn)技術(shù)中對(duì)局部放電測(cè)試要求，采用窄頻濾波器 (Narrowband)量測(cè)技術(shù)進(jìn)行PD放電量測(cè)量，并將量測(cè)結(jié)果以直觀數(shù)值 (pC) 顯示在屏幕上讓用戶清楚明了待測(cè)物測(cè)試判定結(jié)果。

產(chǎn)品設(shè)計(jì)上，除了符合IEC60270-1，同時(shí)也符合光耦合器IEC60747-5-5與VDE0884法規(guī)要求，內(nèi)建IEC60747-5-5法規(guī)之測(cè)試方法于儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試需求，并提供用戶便利的操作接口。

于生產(chǎn)在線執(zhí)行高壓測(cè)試時(shí)，如果待測(cè)物未能正確及良好連接測(cè)試線，將導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失敗甚至發(fā)生漏測(cè)的風(fēng)險(xiǎn)，因此在測(cè)試前確保待測(cè)物與測(cè)試線良好連接是非常重要的。Chroma之高壓接觸檢查功能 (High Voltage Contact Check :HVCC) 系利用Kelvin測(cè)試方法針對(duì)高絕緣能力之組件，于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，增加測(cè)試有效性與生產(chǎn)效率。

在固體絕緣物中含有氣隙或雜質(zhì)混合在絕緣層時(shí)，額定工作高壓狀態(tài)下，由于較高的電場(chǎng)強(qiáng)度集中于氣隙而產(chǎn)生局部放電 (Partial Discharge),持續(xù)性的局部放電會(huì)長(zhǎng)久劣化周遭絕緣材，而影響電氣產(chǎn)品之長(zhǎng)久信賴性，而引起安全事故。

應(yīng)用于電源系統(tǒng)之安規(guī)組件，如光耦合器，因考慮如果組件長(zhǎng)時(shí)間發(fā)生局部放電對(duì)于絕緣材料的破壞，而發(fā)生絕緣失效的情況，進(jìn)而引發(fā)使用者人身安全問題；因此，在IEC60747-5-5法規(guī)中提及，于生產(chǎn)過(guò)程中 (Routine test) 必須100%執(zhí)行局部放電 (Partial discharge) 檢測(cè)，在最大絕緣電壓條件下不能超過(guò)5pC放電量，確保產(chǎn)品在正常工作環(huán)境中不會(huì)發(fā)生局部放電現(xiàn)象。

局部放電測(cè)試器主要針對(duì)高壓光耦合器、高壓繼電器及高壓開關(guān)等高絕緣耐受力之組件，提供高壓的耐壓測(cè)試與局部放電偵測(cè)，確保產(chǎn)品質(zhì)量與提升產(chǎn)品可靠度。

致茂局部放電測(cè)試器MODEL 19501-K特點(diǎn)

■ 單機(jī)內(nèi)建交流耐壓測(cè)試與局部放電偵測(cè)功能

■ 可程序交流耐壓輸出 0.1kVac~10kVac

■ 高精度及高分辨率電流表 0.01μA~300μA

■ 局部放電(PD)偵測(cè)范圍 1pC~2000pC

■ 高壓接觸檢查功能( HVCC)

■ 符合IEC60747-5-5、VDE0884、IEC 60270法規(guī)測(cè)試要求

■ 內(nèi)建IEC60747-5-5測(cè)試方法

■ 量測(cè)與顯示單元分離式設(shè)計(jì)

■ 三段電壓測(cè)試功能

■ PD測(cè)量結(jié)果數(shù)值顯示 (pC)

■ PD不良發(fā)生次數(shù)判定設(shè)定 (1~10)

■ 多語(yǔ)系繁中/ 簡(jiǎn)中/英文操作接口

■ USB畫面擷取功能

■ 圖形化輔助編輯功能

■ 標(biāo)準(zhǔn)LAN、USB、RS232遠(yuǎn)程控制接口